제품소개

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반도체

MBT ( Monitoring Burn-In ) Chamber
    Abstract / Feature
  • Memory Device를 Chamber 내부에 적재하여 사용 시료에 전기적, 열적 스트레스를 가하여 초기 불량 선별하기 위한 신뢰성 및 내구성을 검사하는 장비 
Items Specification
Temp RangeRT ~ 160℃
Temp Rising TimeRT~ 140℃/ within 60 min
Temp Control Accuracy±0.1 ℃
Temp Uniformity±3 ℃